深圳中科飞测科技股份有限公司新获专利，开发出一种简化结构、减少相关成本且降低误检率的“检测设备及检测的新方法”。该设备通过交替发射不同探测光并探测信号光，实现高效精准检测，非常适合于玻璃产品表面缺陷检查。

  天眼查显示，深圳中科飞测科技股份有限公司近日取得一项名为“检测设备及检测的新方法”的专利，授权公告号为CN111458343B，授权公告日为2024年8月6日，申请日为2019年1月18日。

  玻璃材料在现代工业制造中被普遍的使用，例如作为电子设备屏幕、光学透镜、电池片、曲面显示屏等。随着加工水平的进步，慢慢的变多的玻璃产品被设计成曲面结构，以实现更好的功能或达到更好的外观。由于曲面部分加工难度较大，镜面曲面有较大的可能出现缺陷，进而影响其功能及外观，因此就需要对这部分进行仔细的检测，以保证产品合格率。

  对玻璃产品表面缺陷的检测主要是采用光学检测的方法，为增加检测精度，减少误检率，往往需要对产品做多通道检测，包括明场检测、暗场检测和背光检测。明场检测是通过探测待测物表面反射的光束强度，来实现对待测物表明上进行检测的方法。明场检测具有灵敏度高、程序设定简单等优点，在工业检测中具有重要应用。暗场检测是通过探测待测物表面的散射光强度，来实现对待测物表面进行仔细的检测的方法。暗场检测对凸起等缺陷的检测可实现更好的灵敏度。背光检测是通过使光束穿过玻璃产品，对透过玻璃产品的光束进行探测。背光探测对检测玻璃产品的崩边具有很高的精度。

  然而，现有技术通过多通道对产品进行仔细的检测的设备往往体积较大，结构复杂，成本较高。

  本发明提供一种检测设备及检测的新方法，其中，检测设备包括：第一频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第一探测光，所述第一探测光经待测物形成第一信号光；第二频闪光源，被配置为向承载面的待测物发射第二探测光，所述第二探测光经待测物形成第二信号光，所述第一频闪光源和第二频闪光源被配置为多次交替地向所述待测物发射第一探测光和第二探测光；第一探测装置，被配置为多次交替地探测所述第一信号光和第二信号光，获取第一探测信息。所述检测设备结构相对比较简单，成本较低，且能够减少误检。

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